САПР Mentor Graphics
Системы автоматизированного проектирования компании
Mentor Graphics

В сегменте САПР компания Mentor Graphics предлагает решения в области проектирования печатных плат, функциональной верификации, и проектирвания интегральных схем.

Изображение недоступно
Зондовые станции компании 3S
Зондовые станции
компании 3S

В сегменте зондовых измерений на полупроводниковых пластинах компания 3-S предлагает несколько семейств ручных зондовых станций для исследования пластин диаметром до 200 мм, основанных на гибкой универсальной платформе, и охватывающих обширный спектр измерительных задач от измерений по постоянному току до высокочастотных измерений с максимальной частотой до 67 ГГц.

Изображение недоступно
Изображение недоступно
Пробники компании 3S
Позиционеры и пробники
компании 3S

В сегменте зондовых измерений на полупроводниковых пластинах компания 3-S предлагает несколько семейств ручных зондовых станций для исследования пластин диаметром до 200 мм, основанных на гибкой универсальной платформе, и охватывающих обширный спектр измерительных задач от измерений по постоянному току до высокочастотных измерений с максимальной частотой до 67 ГГц.

Изображение недоступно
Изображение недоступно
Оборудование Microtest
Измерительное оборудование компании Microtest

Компания Microtest предлагает современные, экономически выгодные измерители импеданса, индуктивности и емкости, пробойные установки, системы для тестирования трансформаторов и моторов.

Изображение недоступно
Изображение недоступно
previous arrow
next arrow

4-х точечные зондовые измерения

Серия EFP

  • Ручная подача зондовой головки к образцу
  • Функция Probe Head E-Z Changeover
  • Материал контактов зонда: карбид вольфрама или бериллиевая медь
  • Низкая стоимость

Серия SFP

  • Ручная подача зондовой головки к образцу
  • Функция Probe Head E-Z Changeover
  • Усиленный дизайн
  • Материал контактов зонда: карбид вольфрама или бериллиевая медь
  • Низкая стоимость

Серия MFP

  • Моторизованная подача зондовой головки к образцу
  • Функция Probe Head E-Z Changeover
  • Материал контактов зонда: вольфрамовая сталь или бериллиевая медь
  • Термоопция

Серия AFP

  • Автоматизированная подача зондовой головки к образцу
  • Мультиточечное зондирование
  • Материал контактов зонда: карбид вольфрама или бериллиевая медь
  • Диапазон измерений: 1мОм…100Мом
  • Повторяемость: + 0,2%
  • Точность: + 0,1 Ом
  • Составление карты образца
  • Сохранение результатов измерений
  • Термоопция

HT4PP

  • Температура: до 700 С
  • Вакуум: до 10-3 мм рт ст (опция 10-6 мм рт ст)
  • Перемещение зонда по XYZ: 25 мм
  • Защитное охлаждение
  • Измерения методом Ван Дер Пау

HVLS4PP

  • Температура образцов: до 300 С
  • Вакуум: до 10-6 мм рт ст
  • Перемещение зонда по XY: 200 мм
  • Перемещение зонда по Z: 30 мм с разрешением 1мкм
  • Видекамера для контроля контактирования
  • Метод двойной конфигурации